株式会社ルネサス北日本セミコンダクタ

画像処理・画像認識システム  アプリケーション

VPシリーズソフトウェア開発キットでは、豊富な画像処理コマンド、開発支援コマンドをご用意しています。
また、弊社ではこれまで培ってきたノウハウを基に、お客様の画像処理システムやアプリケーション構築に関する様々なご要望についてサポートいたします。 お気軽にご相談下さい。
以下にアプリケーションの一例をご紹介します。

●PCB位置決め

フィデューシャルマークの濃淡形状認識を行いサブピクセル精度の位置情報を出力します。
CADデータによるモデリングにも対応します。
また、マークサイズが変化しても中心位置がずれません。
対象マーク:●■▲▼◆
精度:±5μm(視野角10mm)

●BGA・CSPボール検査

ボールを確実に認識し、ボールサイズ検査を含めた項目を高精度で検査します。

サンプルパッケージの品質に影響を受けません。

●SMTマウンタ

部品のリード検査と中心位置、傾き情報を求めます。

BGA・CSPや異形部品にも対応します。
対応部品:IC各種、BGA・CBGAチップ、異形部品
精度:±10μm(部品中心位置・QFP208ピン)

●リード検査

リード間異物検査を含めた項目を高精度で検査します。

大型・ファインピッチパッケージに対応します。
対応パッケージ:〜 4242サイズ
精度:±10μm(QFP208ピン)

●MBパターンマッチング

モデルのエッジ情報を元に、モデル形状の特徴を抽出し、マッチングを行います。

従来の正規化相関パターンマッチングに比べ欠落したパターンに対するロバスト性が向上し、 回転したワークに対しても高精度に位置検出が可能です。
精度:θ・・0.1°以下、 X,Y・・1/10画素以内

●色抽出

YUV画像をYρθに変換し、指定色を抽出します。
輝度(Y)、彩度(ρ)、色相(θ)に変換することで、輝度変化に強く、 安定した色抽出ができます。
また、彩度を用いて有彩色領域を容易に抽出することができます。

●多ワーク同時位置検出

不規則位置に存在する部品の位置、傾き、個数を検出します。
接触、重なりのあるワークでも正確に対象物を検出可能です。
【重なりのある対象物】  【接触した対象物】